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  • C系列環(huán)形部分耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器

    主要應(yīng)用從準(zhǔn)直光源或光束目標(biāo)反向散射;角度相關(guān)測(cè)量

    更新時(shí)間:2025-07-25
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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  • B系列全耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器

    主要應(yīng)用粒子識(shí)別、望遠(yuǎn)探測(cè)器、任何類型的E測(cè)量

    更新時(shí)間:2025-07-25
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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  • A系列部分耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器

    主要應(yīng)用高分辨率帶電粒子譜測(cè)量

    更新時(shí)間:2025-07-25
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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  • 用于研究應(yīng)用的Si帶電粒子輻射探測(cè)器

    ORTEC提供各種耗盡厚度的硅面壘型探測(cè)器,可滿足眾多研究應(yīng)用的需求

    更新時(shí)間:2025-07-25
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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  • 用于α能譜測(cè)量的Si帶電粒子輻射探測(cè)器

    能譜學(xué)中見的應(yīng)用領(lǐng)域是放射化學(xué)、保健物理和環(huán)境樣品的篩查

    更新時(shí)間:2025-07-25
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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  • 硅帶電粒子輻射探測(cè)器

    ORTEC在20世紀(jì)60年代早期推出了款用于帶電粒子譜測(cè)量的硅面壘型探測(cè)器

    更新時(shí)間:2025-07-25
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  • HPGe輻射探測(cè)器選件和附件

    更新時(shí)間:2025-07-25
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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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  • HPGe輻射探測(cè)器冷卻系統(tǒng)

    低溫恒溫器、杜瓦瓶、低溫恒溫器/杜瓦瓶組件和電冷卻所有HPGe輻射探測(cè)器都需要冷卻到低溫,才能正常運(yùn)行

    更新時(shí)間:2025-07-25
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  • 特殊輻射探測(cè)器

    ORTEC可為的應(yīng)用或更嚴(yán)格的性能要求提供特殊的探測(cè)器設(shè)計(jì)

    更新時(shí)間:2025-07-25
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  • SPD-1潛水輻射探測(cè)器

    ORTEC潛水光子探測(cè)器(SPD-1)專為乏燃料池中的核燃料元件掃描測(cè)量而設(shè)計(jì)

    更新時(shí)間:2025-07-25
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